Título
Películas delgadas de CdTe/CdS/ITO: CARACTERIZACIÓN DE CdTe/CdS DEPOSITADAS POR BAÑO QUIMICO/CSSSR
Autor
ALMA ROCIO RIVERA GOMEZ
Colaborador
JOSE ALBERTO DUARTE MOLLER (Asesor de tesis)
Nivel de Acceso
Acceso Abierto
Materias
Resumen o descripción
Se depositaron películas delgadas de CdS sobre substratos de vidrio/ITO
(portaobjetos/estaño dopado con indio) utilizando la técnica de depósito por baño
químico sin agitación. Las condiciones de depósito fueron las siguientes: A una
temperatura de baño constante de 70°C. las soluciones utilizadas: CdCl2 0.05M,
KOH 0.5M, Na3C6H5O7 0.5M y SC(NH2)2 0.5M, preparadas a temperatura
ambiente utilizando agua desionizada hasta completar un volumen de 100 ml. El
tiempo de depósito fue de 90 min. Se realizó la caracterización morfológica y
elemental a través de UV, MEB, EDS y AFM, determinándose las propiedades
ópticas (transmisión, gap de energía) y el espesor, además se calculó el tamaño
de grano por medio del WSxM SPM Software. El método de depósito por baño
químico proporciona películas adherentes y con propiedades ópticas y de gap de
energía, con un crecimiento de tipo VOLMER-WEBER. Posteriormente se
comparó las propiedades de dos técnicas de depósito de CdTE tales como
Erosión catódica y sublimación en espacio cercano además se trabajó en la
influencia de Tratamientos Térmicos con CdCl2 preparado con etanol sobre las
características de películas delgadas de CdS/CdTe. La Caracterización de
películas delgada de CdTe crecidas por la técnica de Sublimación en Espacio
Cerrado combinada con rotación de Sustrato por sus siglas en inglés (CSSSR),
sobre sustratos de CdS/ITO previamente depositado el CdS mediante Baño
Químico (CDB) sin agitación. Las condiciones de depósito de CdTe fueron:
Presión base de 1x10-6 mTorr, la temperatura del contenedor de Figura fue de
650°C y por radiación del sustrato alcanza los280°C, la distancia fuente-sustrato
de 5.0 mm, rotación del sustrato de 1025 rpm y el tiempo de deposición 10 min.
Se realizó la caracterización morfológica a través de AFM y rayos.x, identificación
de grano y rugosidad por medio del WSxM SPM Software. La difracción de rayos-x
fue utilizada para identificar la estructura cristalina y se encontró que las películas
muestran una estructura cristalina cubica con una orientación espacial (111), un
grano compactado con un crecimiento uniforme. Después de esto se llevó a cabo
el tratamiento térmico en una mufla a 450 °C [1] por un periodo de 30 min,
procediendo a la caracterización ya mencionada para su comparación, cambiando
su morfología después del TT
Thin films were deposited on glass substrates CdS /ITO (slide / indium tin) by
using chemical bath deposition (CBD) technique without a
Fecha de publicación
noviembre de 2014
Tipo de publicación
Tesis de doctorado
Recurso de información
Formato
application/pdf
Idioma
Español
Repositorio Orígen
Fuente de Objetos Científicos Open Access
Descargas
3080